Metody pro návrh, analýzu, měření a kontrolu kvality optických soustav a prvků

Metody návrhu, analýzy a optimalizace optických soustav umožňují efektivního dosažení požadovaných parametrů navrhovaných optických soustav a zajištění praktické realizovatelnosti a vyrobitelnosti takových optických soustav. Při návrhu je možné použít jak klasických, tak i neklasických optických a optoelektronických prvků (jako např. aktivních prvků s proměnnými parametry, prvků různých tvarů ploch optických rozhraní, difraktivních prvků, prvků s prostorově proměnným rozložením indexu lomu a anizotropií, optických prvků s metapovrchy, apod.) umožňujících konstrukci specializovaných hybridních optoelektronických systémů a využití efektivních výpočetních metod pro optimalizaci návrhu a automatizované vyhodnocování zobrazovaných či měřených dat. Velmi důležitou problematikou je též návrh, realizace a metody kontroly kvality difrakčně omezených optických systémů s vysokou numerickou aperturou a velice malými zbytkovými aberacemi (typicky mikroskopové nebo projekční litografické objektivy). Při procesu výroby, justáže a výstupní kontroly optických soustav je nutné provádět velmi přesná kvantitativní měření obrazové kvality a požadovaných optických a geometrických parametrů ať již jednotlivých optických prvků, podskupin optických prvků, či optické soustavy jako celku. Vývoj robustních a spolehlivých měřicích a vyhodnocovacích metod, které budou používány v různých fázích výrobního procesu optické výroby, je stěžejní pro možnost výroby vysoce kvalitních optických systémů v praxi.